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190-850nm 紫外線光譜儀 UV-470-standard


光柵類型:470 g/mm;焦距:70mm;波長范圍:190-850 nm;分辨率:1.4 nm @ 190-850 nm;F Nbr:2.0;信噪比:1200:1;雜散光@ 340nm <0.07%;雜散光@ 435nm:<0.01%;色散度:21.3 nm/mm; 狹縫尺寸: 標準15 μm 可定制25 50 and 100 μm

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產品總覽

UV-470 光譜儀內含一個像差校正的凹面全息光柵,在UV區(qū)域提供極限性能。UV-470光譜儀的工作光譜范圍為190-850 nm。

單個全息光學元件設計,提供低雜散光(0.07%@340nm),能夠提高信噪比。關于OEM應用,您可以選擇狹縫地尺寸或訂購不帶驅動板的UV-470


型號參數


光柵類型470 g/mm 像差校正凹面光柵。(aberration corrected concave grating)
焦距70mm
光譜范圍190-850 nm
解決(Resolution)1.4 nm @ 190-850 nm
丁腈橡膠( F Nbr)2.0
信噪比1200:1
雜散光@340nm<0.07%
雜散光@435nm<0.01%
分散21.3 nm/mm
狹縫尺寸 (Slit Size)15um標準。25、50 和 100 μm 可根據要求提供
動態(tài)范圍2000:1
積分時間0.1 ms至 6.5 s
像素大小8 um x 200 um 
像素井深度 (Pixel Well Depth)100,000 個電子
A/D 分辨率 (A/D Resolution)16 位
光纖輸入SMA 905, 0.22 NA
界面USB 2.0
力量300 mA通過 USB
操作系統(tǒng)Windows XP / Windows 7
方面96.5 x 72.5 x 63.5 mm
重量1.09 磅(0.5 kg)
工作溫度0° 至 55°C


其它型號
  名稱 型號貨號         價格
190-850nm 紫外線光譜儀 UV-470-151 F80010030
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